探針臺
Probe Stations
譜量光電 探針臺又稱探針測試臺,主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺,探針臺可吸附多種規(guī)格芯片,并提供多個可調(diào)測試探針以及探針座,配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對材料、芯片等進(jìn)行科研實驗分析,抽查測試等用途。
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樣品臺行程
XY軸50mm,Z軸60mm,R軸360旋轉(zhuǎn)可鎖緊 |
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綜合最大放大倍數(shù)
~270倍 |
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探針座調(diào)節(jié)精度
3μm |
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漏電精度
10pA屏蔽箱內(nèi)) |
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線纜規(guī)格
同軸接口(BNC、鱷魚夾、香蕉插頭)/三同軸接口(可選配) |


(Keithley26系列源表實測)

PLCTS 標(biāo)準(zhǔn)型基礎(chǔ)測試探針臺結(jié)構(gòu)小巧、功能實用,超高性價比。在滿足基本測試功能基礎(chǔ)上,去除了非必要得部件滿足常規(guī)半導(dǎo)體器件的研發(fā)、制造和測試需要,是光電芯片/器件測試的理想之選。如需更換探針座款式(3μm、1μm、0.7μm等)及線纜規(guī)格(三同軸線纜)可聯(lián)系客服。